掃描電鏡SEM測試中噴金儀的作用分析
掃描電鏡幾乎可以對所有類型的樣品進行圖像處理,陶瓷、金屬、合金、半導體、聚合物、生物樣品等。然而,某些特定類型的樣品更具有挑戰性,并且需要同學們進行額外的樣品制備,以便借助掃描電鏡收集高質量圖片。這些額外的步驟包括在樣品中表面濺射一個額外的導電薄層材料,如金、銀、鉑或鉻等。
該設備專用于貴金屬薄膜鍍膜,用于SEM觀察。這是一種用貴金屬涂覆 SEM 樣品以防止充電并提高二次電子產生效率的裝置。除了使用磁控管靶電極進行低壓放電外,還將樣品臺制成浮動式,以減少電子束流入對樣品造成的損壞。操作簡單,按一下按鈕即可,沒有任何技巧。它很小,不占用太多空間。它放在辦公桌的一角會很有用。
用途
這是用于SEM樣品的金屬鍍膜裝置。
主要產品規格
物品 | 規格 |
電源 | AC100V(單相100V 10A)3P帶地插頭1口 |
旋轉泵 | 10L/min(裝置內置) |
設備尺寸 | 寬200mm x 深350mm x 高345mm (設備重量:14.6Kg) |
樣品室尺寸 | 內徑120mm x 高65mm(硬玻璃) |
樣品臺尺寸 | 直徑50mm(浮動法) |
電極-樣品臺距離 | 35mm(使用輔助樣品臺時為25mm) |
靶電極 | 內置永磁體的磁控管型靶電極 |
目標金屬規格 | Φ51mm,厚度0.1mm Pt、Pt-Pd、Au、Au-Pd、Ag |
©2024 秋山科技(東莞)有限公司(www.seguigui999.com) 版權所有 總訪問量:352047 sitemap.xml
地址:東莞市塘廈鎮塘廈大道298號603室 技術支持:環保在線 管理登陸 備案號:粵ICP備20060244號