光學應用測量-FFP 測量裝置介紹

發布日期：2023-11-08      瀏覽次數：596

光學應用測量-FFP 測量裝置介紹

FFP（遠場方向圖）測量設備是測量半導體激光器、光纖、光波導、光模塊等FFP（遠場方向圖）的設備。

光學系統采用我司的FFP測量光學系統M-Scope type F，結合我司的各種光電探測器和光束分析模塊AP013，可用于測量各種光學器件的FFP、輻射角分布、輸出NA。用于分析。

通過選擇光電探測器，可以構建從可見光范圍到1550nm近紅外波段的各種光通信系統。






產品特點

• 使用FFP 測量光學系統 M-Scope F 型

• 專用光學系統+圖像處理分析方法。易于調整，可在各個角度快速分析 FFP。

• 長工作距離設計，工作距離約6mm。

• 有兩種型號配備增透膜：一種適用于可見光范圍，另一種適用于近紅外范圍。

• 近紅外區域（650~1700nm波段增透膜產品）：M-Scope type F

• 可見光范圍（400~650nm波段增透膜產品）：M-Scope type F/BL

• 通過選擇光電探測器，可以進行從可見光范圍到近紅外范圍的測量。

• 400~1100nm：高精度CMOS探測器ISA071、ISA071GL等

• 950~1700nm：InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041H2等

• [新] 400~1700nm：InGaAs高分辨率近紅外探測器　ISA041HRA

• 光束分析模塊AP013，包括分析裝置、光束分析軟件、檢測器驅動器和校正數據。

• 多合一包裝允許安裝后立即使用。

• Optimetrics BA Standard，專為光束輪廓測量而開發的光束測量和分析軟件

• 我公司自主研發的用于測量光束輪廓的圖像處理和分析軟件。還支持EF/EAF測量功能。




產品主要用途

• 各種光器件、光模塊的FFP測量與分析

• 半導體激光器、光纖、光波導和光模塊的 FFP 分析

• 各種光學器件和光學元件的NA測量和分析

• 光纖、光布線波導、蝶形模塊等的NA分析。

• 多模光纖環向角通量分析

產品配置/元件選擇

設備配置圖



元件選擇

• FFP 測量光學系統 M-Scope type F 系列選型

• 650~1700nm：FFP測量光學系統M-Scope F型

• 400~650nm：用于藍色 M-Scope F/BL 型的 FFP 測量光學系統

• 紅外高分辨率 FFP 光學系統 M-Scope 型 FHR

• 這是一款專用于1310~1550nm波段的紅外高分辨率FFP測量光學系統。

• 探測器

• 400~1100nm：高精度CMOS探測器ISA071、ISA071GL

• 950~1700nm：InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041H2（紅外激光光束輪廓測量推薦型號）

• 400~1700nm：【新】InGaAs高分辨率近紅外探測器　ISA041HRA (SXGA)

• 僅 M-Scope 型 FHR：VGA 型 InGaAs 高靈敏度近紅外探測器 ISA041VH

• 光束分析模塊AP013

• 數據處理裝置主機、檢測器驅動器、光束測量分析軟件Optometrics BA Standard、校正數據

• 配件

• 附帶電纜、手冊等

選項/配件選擇

• ND濾鏡

• 可見光（400~700nm）：NDF-5

• 近紅外（700nm~1100nm）：NDF NIR-5

• 紅外（1310nm~1550nm）：NDF IR-5

• 光學系統安裝座

• 用于光纖測量的光學系統支架

• 垂直光學系統安裝架

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• 我們還擁有各種光學測量系統和光學測量設備，可用于各種其他目的和應用。