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軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

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更新日期:2024-03-20

簡要描述:

日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
高測量分辨率
由于它是非接觸式,因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。
即使表面狀況粗糙,也可以進行測量。
基重測量
操作簡單(具有自動介電常數設置功能)

軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
類型數字式測量范圍1

日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2


產品特點
  • 高測量分辨率

  • 由于它是非接觸式,因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。

  • 即使表面狀況粗糙,也可以進行測量。

  • 基重測量

  • 操作簡單(具有自動介電常數設置功能)

  • 模型TOF-C2 * TOF-C的后繼機型
    測量方法非接觸式/電容式
    測量對象薄膜、粘性保護膜、防塵膜
    測量原理電容式

    日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

  • 產品規格
    測量厚度~ 500 微米
    測量長度10 至 10000 毫米
    測量間距1 毫米 ~
    小顯示值0.01微米
    電源電壓AC100V 50 / 60Hz
    工作溫度限制5-40°C(測量時溫度變化1°C以內)
    濕度35-80%(無冷凝)


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