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更新日期：2024-03-22
簡要描述：
日本yamashitadenso高倍率表面缺陷探傷儀YIS 系列的高倍率檢測設備可在螢幕上呈現一個10mm的視場。特別廣泛應用于磊晶處理后的滑線檢查。同時也適用于硬碟或光學拋光元件。
| 類型 | 無損傷 |
|---|
日本yamashitadenso高倍率表面缺陷探傷儀
即時顯示所有表面狀態。
光學系統對應等級１。
光學系統無須維護。
根據檢測內容，可修正檢測靈敏度。
| 檢測尺寸 | 從φ100mm至φ300mm |
| 檢測內容 | 平坦度、凹洞、凸起、刮痕、橘皮等 |
| 檢測倍率 | 1x / 3x 模式可切換（標準設備） |
| 檢測靈敏度 | 檢測靈敏度可連續調整 |
| 使用光源 | 550nm （固定照度之穩定光源） |
| 鏡頭 | 高解析度CCD鏡頭 |
| 平臺 | 手動平臺（標準設備） |
| 鏡面晶圓的表面檢測 |
| 滑線檢測 |
| 玻璃基板檢測 |
| 其他鏡面基板檢測 |
| 電動馬達檢測平移臺 |
| 自動判定缺陷影像處理裝置 |
| 影像列印機 |
| 搬運裝置 |
※ 可以隨時在敝公司內展示。
※ 可將樣品寄送過來，之后我們再將影像結果回寄。
